手持式光譜分析儀數據準確嗎？

雖然測量精度很高，但在測定樣品中的元素含量時，結果通常與真實含量不一致，存在一定誤差，而且有些材料由于諸多因素本身含量較低。1、系統誤差的來源

1)當標準樣品和樣品的含量和化學成分不完全相同時，基體線和分析線的強度可能發生變化，從而引入誤差。

2)為了消除系統誤差，必須嚴格遵循標準樣品制備的要求。為了檢查系統誤差，需要通過化學分析對校對結果進行分析。

3)鑄態鋼樣的金屬組織與退火、淬火、回火、熱軋、鍛造后的鋼樣的金屬組織不同時，測得的數據會有所不同。

4)未知元素譜線的重疊干擾。比如冶煉過程中加入脫氧劑和脫硫劑時，混入未知合金元素，引入系統誤差。

5)當標準樣品和樣品的物理性質不完全相同時，激發的特征譜線會有所不同，從而產生系統誤差。

2、偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻性相關的誤差。由于光電光譜分析消耗的樣品少，元素分布不均勻，樣品中結構不均勻，導致不同部位分析結果不同，產生偶然誤差。主要原因如下:

1)熔化過程中帶入的夾雜物，導致偏析等。導致樣品中元素分布不均勻。

2)樣品的缺陷、氣孔、裂紋和砂眼。

3)研磨線交叉、樣品研磨過熱、樣品研磨面靜置時間過長、指紋按壓等因素。

4)減少偶然誤差，需要仔細取樣，消除樣品的不均勻性和樣品的鑄造缺陷，多次重復分析，減少分析誤差。

3.其他因素誤差

1)室內溫度的升高會增加光電倍增管的暗電流，降低信噪比。濕度大容易導致高壓元件泄漏放電，使分析結果不穩定。

2)氬氣不純。當氬氣中含有氧氣和水蒸氣時，會使激發斑變差。如果氬氣管道和焊鉗中有污染物，分析結果會更差。

手持式光譜儀如何避免誤差:

1)樣品表面應光滑，樣品放在電極架上時不應漏氣。如果有漏氣，激勵時聲音異常。

2)樣品和對照標準樣品的磨粒厚度要一致，不能有十字紋，磨粒力度不能太大，力度要均勻，容易造成樣品表面氧化。

3)磨削高鎳鉻鋼試樣時，應使用新砂輪磨削試樣，對磨削線的要求更為嚴格。

4)真空度不夠高，分析靈敏度會降低，尤其是波長小于200nm的元素。所以需要0.05mmHg的真空度。

5)電極*要有一定的角度，使光軸不偏離中心，放電間隙要保持不變，否則會聚焦在光譜儀的光譜上。線路強度會發生變化。重復放電多次后，電極會變尖，改變放電間隙。激發產生的金屬蒸汽也會污染電極。因此，有必要在一次激發后用刷子清潔電極。

6)透鏡內表面經常被真空泵排出的油蒸氣污染，外表面在分析時被金屬蒸氣附著，明顯降低透過率，對波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更為顯著，應定期清洗聚光鏡片。

7)試樣應無偏析、裂紋、氣孔等缺陷，并具有代表性。

8)出口狹縫的位置變化受溫度影響較大，因此保持分束室內恒溫30℃很重要，同時也要求室內溫度一致，使出口狹縫不偏離正常值。

lcrmeter使用方法？

LCR測試儀的使用

1.打開1號電源。LCR測試儀

首先將LCR測試儀帶IEC的電源線一端連接到駕駛臺左后方的IEC插座上，另一端插入合適的電源插座，移動LCR測試儀左后方的船形開關，即使駕駛臺通電。通電后，顯示屏、檔位和功能指示燈將亮起。LCR測試儀可以自動放置在電感和電容測量文件，并聯等效和1KHz頻率狀態。正常情況下，上電幾秒后內部電路會穩定，可以進行測量。

2.2的被測組件的訪問方法。LCR測試儀

(1)通常情況下，徑向引線的組件可以直接插入組合測試夾具的夾板中，而特殊柔性引線的組件應借助夾板離合器進行連接，夾板離合器位于測試夾具的正下方。

⑵連接軸向導線元件時，為避免導線扭曲，可使用軸向適配器。首先，將兩個接頭分別插入測試夾具的兩端，然后將間距調整到適合測量元件的位置，然后將軸向引線元件插入兩端的接頭夾具中。

(3)當軸向適配器必須牢固固定時，如測量大量類似部件時，應使用支撐板。

安裝支撐板:首先將軸向適配器調整到合適的位置，然后將支撐板懸掛在軸向適配器上方，讓每個軸向適配器穿過支撐板上的槽，將支撐板放好，將固定螺釘對準LCR測試儀面板上的螺孔，最后擰緊螺釘。注意:安裝時不容易把螺絲擰得太緊。

注意:雖然這種LCR測試儀可以保護充電電容器免受接入測試，但最好在測量前通過適當的電阻對充電電容器放電。

LCR測試儀IM3533-01

3.使用時注意LCR測試儀的讀數和測量條件的顯示。

(1)⑴LCR測試儀的6位顯示不一定都有效，在某些測量中測量數據的尾值可能會有較大的跳躍，因此應丟棄這些跳躍值，讀取其穩定值。

(2)通常使用LCR測試儀進行自動量程測量，以確保選擇正確的量程，并可通過手動操作觀察實際工作量程。當應用于同一批次同一測量元件的批量測試時，可選擇量程鎖定模式。打字工作。

(3)串并聯指示

雖然LCR測試儀具有串聯或并聯顯示當量值的選擇性，但在Q值不利的情況下，上述兩種方法都無法獲得基本的準確度。當需要改變某種顯示以提高基本精度時，LCR測試儀用下標S表示串聯，用下標p表示并聯

(4)頻率提示

電容為200μf~2000μf，電感為200h~2000h，在100Hz的測量頻率下只能獲得基本精度。同樣，200pf~2nf的電容和200μh~2mh的電感只能在1KHz的測量頻率下獲得基本的精度，所以要選擇最合適的測試頻率才能獲得最佳的測試性能。

(5)測試水平顯示

具有高磁導率的高k陶瓷電容或磁電感對測試信號的電平很敏感，不同的測試電平會產生不同的測量結果。同時，測試等級越低，測量穩定性越差。

測試儀測量條件參考表

表測量條件參考

元件名稱測量頻率串并聯

電容lt1μF1KHz并聯

電容≥1μF(非電解電容)100Hz并聯

電容≥1μF(電解電容)100Hz串聯(SER)

電感器lt1H1KHz系列(ser)

電感≥1Hz100Hz串聯(SHR)

電阻lt10kω100hz系列(SHR)

電阻≥10kω100hz并聯

當日本LCR測試儀能夠提供100Hz和1KHz頻率下的串并聯等效元件的數值時，建議對某型號、某數值的元件采用一定的進行測量。這樣做是為了獲得最適合部件的結構形式和部件的普通工作模式的測量。例如，大容量的電解電容器經常被用作電力濾波器元件。測量時會發現，1KHZ頻率下的電容明顯低于100Hz頻率下的電容。這種現象是由與這種部件的幾何結構相關的各種因素造成的。所以電解電容在100Hz頻率下測得的電容值最有用。電解電容器的損耗項通常顯示在串聯等效電阻(ESR)上，因此應測量其串聯電容和串聯電阻值。